主要从两大方面来说明影响涂镀层测厚仪测量值精度的因素：
1.影响因素的有(yǒu)关说明
a 基體(tǐ)金属磁性质
磁性法测厚受基體(tǐ)金属磁性变化的影响(在实际应用(yòng)中，低碳钢磁性的变化可(kě)以认為(wèi)是轻微的)，為(wèi)了避免热处理(lǐ)和冷加工因素的影响，应使用(yòng)与试件基體(tǐ)金属具有(yǒu)相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可(kě)用(yòng)待涂覆试件进行校准。
b 基體(tǐ)金属電(diàn)性质
基體(tǐ)金属的電(diàn)导率对测量有(yǒu)影响，而基體(tǐ)金属的電(diàn)导率与其材料成分(fēn)及热处理(lǐ)方法有(yǒu)关。使用(yòng)与试件基體(tǐ)金属具有(yǒu)相同性质的标准片对仪器进行校准。
c 基體(tǐ)金属厚度
每一种仪器都有(yǒu)一个基體(tǐ)金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基體(tǐ)金属厚度的影响。
d 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可(kě)靠的。
e 曲率
试件的曲率对测量有(yǒu)影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可(kě)靠的。
f 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可(kě)靠的数据。
g表面粗糙度
基體(tǐ)金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有(yǒu)影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基體(tǐ)金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基體(tǐ)金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用(yòng)对基體(tǐ)金属没有(yǒu)腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
g 磁场
周围各种電(diàn)气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
h 附着物(wù)质
涂层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物(wù)质敏感，因此，必须**附着物(wù)质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i 测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小(xiǎo)会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
j 测头的取向
测头的放置方式对测量有(yǒu)影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
2.使用(yòng)仪器时应当遵守的规定
a 基體(tǐ)金属特性
对于磁性方法，标准片的基體(tǐ)金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基體(tǐ)金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基體(tǐ)金属的電(diàn)性质，应当与试件基體(tǐ)金属的電(diàn)性质相似。
b 基體(tǐ)金属厚度
检查基體(tǐ)金属厚度是否超过临界厚度，如果没有(yǒu)，可(kě)采用(yòng)3.3中的某种方法进行校准。
c 边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d 曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
e 读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多(duō)次测量，表面粗造时更应如此。
f 表面清洁度
测量前，应**表面上的任何附着物(wù)质，如尘土、油脂及腐蚀产物(wù)等，但不要除去任何覆盖层物(wù)质