中华人民(mín)共和國(guó)航空工业部指导性技术文(wén)件
HB/Z 37--82
变形钛合金圆饼及盘件超声波检验说明书
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1使用(yòng)范围
1.1本说明书适用(yòng)于制造航空发动机压气机盘用(yòng)的钛合金圆饼及盘件。
1.2本说明书所规定的检验方法和验收标准是对变形钛合金圆饼及盘件超声波检验的一般性要求。对于不同的机种、不同的材料及工艺,可(kě)在此基础上作适当的补充和修改,并在有(yǒu)关的技术文(wén)件中作出说明。
2要求
2.1与所检验圆饼及盘件制造批的解剖件,其化學(xué)成分(fēn)及组织等均应符合该技术条件的要求。
2.2圆饼及盘件两端面应是用(yòng)圆头刀(dāo)具加工过的,光洁度相当于△6。
2.3将圆饼及盘件置于转台上,按螺旋扫查方式进行检查。可(kě)采用(yòng)水浸法，也可(kě)采用(yòng)接触法。采用(yòng)水浸法时,从探头面到零件表面的水层距离应符合说明书HB/Z59--81《航空金属材料及零件超声纵波探伤说明书》的要求。
2.4超声波探伤仪--探头的性能(néng)应符合说明书HB/Z59--81的要求。按本说明书进行变形钛合金圆饼及盘件的检查时,需用(yòng)的频率為(wèi)5MHz及2.5MHz。换能(néng)器直径可(kě)為(wèi)10--14mm。
2.5為(wèi)按说明书HB/Z 59--81制造供调整仪器灵敏度用(yòng)的试块,要求订货方根据*终成品盘的尺寸及加工工艺提供圆饼及盘件上下面加工余量的尺寸。
2.6為(wèi)便于确定圆饼的验收,订货方应根据*终成品盘的尺寸及加工工艺,提供在圆饼上轮缘區(qū)的位置。
3圆饼的检查
本说明书要求对每一变形钛合金圆饼的每一端面均进行两次检查。**次為(wèi)垂直入射纵波检查;**次為(wèi)圆饼中声波折射角為(wèi)45°的横波检查。
3.1**次检查---垂直入射纵波检查
3.1.1按说明书HB/Z 59--81第4.3条,用(yòng)供调整仪器灵敏度用(yòng)的两块标准试块调整仪器灵敏度。标准块中平底孔的直径為(wèi)0.8mm,任何一块的孔底反射波高均应等于或大于荧光屏饱和值的80%,工作频率為(wèi)5MHz。在此调整情况下仪器的动态范围不得低于16dB。
3.1.2使圆饼在转台上转动,使声束垂直圆饼端面,沿圆饼直径方向移动探头进行从一端到另一端的垂直入射检验。检查線(xiàn)速度不得大于4m/min,扫查间距不得大于声束有(yǒu)效直径的1/3。
注:有(yǒu)效波束直径指的是将探头在端面上(接触法)或规定的水层距离处(水浸法)沿直径方向移过供调整仪器灵敏度用(yòng)的标准块中埋藏深度较小(xiǎo)的平底孔时,反射波高比*大反射波高低6dB的两点间的距离.
3.2**次检查---在圆饼中声束折射角為(wèi)45°的横波检查。
3.2.1用(yòng)图1所示的钛合金横波试块检查探头的声束入射点及在钛中的折射角。如果折射角不是45°应修整探头。工作频率為(wèi)2.5MHz。
3.2.2用(yòng)图2所示的横波灵敏度标块调整仪器灵敏度使来自埋藏深度与所须探测深度相当的一个平底孔的反射波高不低于荧光屏饱和值的80%。在此调整情况下,仪器的动态范围不得低于16dB。当不同部位(如圆饼的边缘部分(fēn)与中间部位)的探测深度相差较多(duō)时,仪器灵敏度应分(fēn)别调整。
3.2.3使圆饼转动,沿圆饼直径方向移动探头,波束沿直径方向入射,进行从一端到另一端的横波检查。扫查線(xiàn)速度不大于4m/min,扫查间距不大于声束有(yǒu)效直径的1/3。
4圆饼的验收
在进行纵波及横波检查后,符合下列各条的圆饼可(kě)以验收。
4.1在轮缘部分(fēn)的任何反射信号均比埋藏深度相同，直径為(wèi)0.8mm的平底孔孔底反射波高低6dB或更多(duō)。
4.2在其余部分(fēn)有(yǒu)反射信号，但波高均小(xiǎo)于埋藏深度相同，直径為(wèi)0.8mm的平底孔孔底反射。
4.3反射體(tǐ)相互间的距离在任何方向上均不小(xiǎo)于40mm。每个圆饼上总数不超过6个,且不是長(cháng)条形的。
4.4沿荧光屏整个扫描基線(xiàn)分(fēn)布的杂草(cǎo)状反射波其高度比荧光屏饱和值的80%小(xiǎo)12dB或更多(duō)。
4.5反射波高不明显高于杂波高度的可(kě)以不作记录,但不应是密集的。
4.6底反射的波高与几何形状相同的正常材料相比没有(yǒu)明显的降低,底波的位置也没有(yǒu)前移。
5圆饼的拒收与处理(lǐ)
5.1在出现下列情况时应通知订货方共同处理(lǐ):
5.1.1在轮缘部分(fēn)的反射信号高度不符合4.1条的规定,但比埋藏深度相同直径為(wèi)0.8mm平底孔的孔底反射低。
5.1.2在其余部分(fēn)的反射信号高度不符合4.2条的规定,但比埋藏深度相同直径為(wèi)1mm平底孔的孔底反射低。
5.2不符合5.1.2或5.1.1条规定的圆饼,如果订货方不能(néng)确保反射體(tǐ)在以后的加工中可(kě)以除去,则应拒收。
5.3不符合本说明书4.6条规定的圆饼,如果通过冶金分(fēn)析确认在以后的加工中可(kě)以得到改善,可(kě)通知订货方共同处理(lǐ)。
5.4发现有(yǒu)本说明书没有(yǒu)包括的情况时,应通知订货方共同处理(lǐ)。
6盘件的超声波检验
6.1由可(kě)验收圆饼制成的盘件可(kě)参照本说明书进行超声波检验,不进行45°横波检查,但须按6.2条的规定进行底波损失的检查。
6.2使纵波探头所发射的声束垂直入射到正常组织盘的端面上(频率為(wèi)5MHz),调整仪器灵敏度使一次底反射波高為(wèi)荧光屏饱和值的80%。将受检盘件放在转台上转动以检查各部位的底波损失情况。不允许与几何形状相同的正常组织盘相比有(yǒu)大于6dB的底波损失。
注:0°两侧的線(xiàn)按mm刻,每侧長(cháng)10mm.
图1 检查探头声束入射点及折射角用(yòng)的试块
图2用(yòng)折射角為(wèi)45°的横波检验时,供调整仪器灵敏度用(yòng)的标块
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航空工业部发布 1983年5月1日实施
六二一研究所提出 六二一研究所起草(cǎo)