一、参考试块的用(yòng)途 1.测定仪器和探头的性能(néng) 2.在探伤过程中，调整和控制综合灵敏度不发生变化。 3.复查和控制以前使用(yòng)仪器的标准（工作状态）。 4.區(qū)别材料的性质

  参考试块是生产和使用(yòng)仪器时，检查和控制其质量及工作状态的重要工具。现在通用(yòng)的是I.I.W(或CSK-3)型参考试块。参考试块可(kě)以测定仪器的灵敏度、分(fēn)辨力、盲區(qū)、扫描線(xiàn)線(xiàn)性、放大器線(xiàn)性、斜探头标志(zhì)線(xiàn)、折射角度、方向性、斜探头在荧光屏上的真零点（即波束离开斜探头有(yǒu)机玻璃时的零点）等。而灵敏度、盲區(qū)、分(fēn)辨力取决于仪器及探头的性能(néng)。

  二、时间基線(xiàn)（扫描線(xiàn)）線(xiàn)性的测定  用(yòng)直探头（纵波）测定，发射波调整在荧光屏的零点上。例如时间基線(xiàn)為(wèi)0~100毫米时，将探头放在试块的A位置，以25毫米的多(duō)次反射波进行校正。微调扫描速度，使**次反射波出现在25处，如果扫描線(xiàn)性好，**、三、四次应分(fēn)别与50、75、100刻度重合。否则多(duō)次反射波不成比例的出现在荧光屏上。

  三、放大器線(xiàn)性的测定  如下图所示，将超声波探伤仪探头放在F位置的有(yǒu)机玻璃块上探测，有(yǒu)机玻璃的厚度相当于50毫米钢的厚度。测定时，灵敏度的控制由*小(xiǎo)开至*大，高穿透力仪器有(yǒu)6~10个反射波，低穿透力的仪器只有(yǒu)2~4个反射波。

  相对灵敏度测定，如下图，将超声波探伤仪探头放在C位置。灵敏度控制*初放在*小(xiǎo)位置，移动探头，直到荧光屏上出现1.5毫米洞反射回的波為(wèi)止。在给定的灵敏度控制位置下，反射的高度就是相对灵敏度。

  五、盲區(qū)测定 如下图所示，将探头放在D位置上，可(kě)测的盲區(qū)小(xiǎo)于10毫米。将探头放在E位置上，可(kě)测的盲區(qū)小(xiǎo)于5毫米。

  六、分(fēn)辨力的测定 下图探头在G位置，可(kě)测定分(fēn)辨力。探头移动，使之在85、91和100刻度处获得三个回波。如果三个波是分(fēn)离的，则分(fēn)辨力好。否则，分(fēn)辨力差。

  七、斜探头波束零点線(xiàn)的校正 斜探头有(yǒu)机玻璃楔块上的零点線(xiàn)和压電(diàn)晶片的中心線(xiàn)重合。斜探头在H位置移动，直到从100毫米弧度处获得*大的反射波為(wèi)止，如斜探头零点線(xiàn)与试块上0点重合，则斜探头的零点線(xiàn)正确。否则，需移动探头的晶片，直至重合為(wèi)止。此时斜探头的零点線(xiàn)即為(wèi)声波主線(xiàn)的入射点。

  八、折射角的测定 如下图示，探头在J位置，移动超声波探伤仪探头，直到获得从有(yǒu)机玻璃圆柱块处反射回的波幅*高為(wèi)止，此时探头零点線(xiàn)在试块上所指的角度即為(wèi)其折射角度（入射点至有(yǒu)机玻璃圆柱块中心的连線(xiàn)与零点線(xiàn)的夹角），试块上刻有(yǒu)几个固定的折射角。

  九、斜探头真零点的校正 斜探头声波经过有(yǒu)机玻璃延迟一段时间后，射入工件，这一段时间需在荧光屏零点刻度上予以校正。如下图示，探头在K处移动，直到获得从100毫米弧度反射回的波幅*高為(wèi)止，然后调整扫描線(xiàn)的“水平位移”及“细调”，使两个反射波出现在40°及90°处為(wèi)止。刻度40°的波系从100毫米处直接反射回探头的波（路径200毫米），而90°处的波系由100毫米处及25毫米槽处往复反射回至探头的波（路径450毫米）。此时，荧光屏的零点刻度即為(wèi)声波离开斜探头有(yǒu)机玻璃楔块时的零点。