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HUD系列超声波探伤仪探头各种探头校准

超声波探伤仪各种探头校准

超声波探伤仪各种探头校准
工作开始前，需要根据探头和被测工件的情况来校准仪器的声速、声程以及探头零点，以适应探伤
条件。其中，声速和探头零点校准是因為(wèi)状态行所显示参数的计算都是与声速和探头零点相关，所以在
探伤前请務(wù)必校准；声程校准是為(wèi)了使屏幕上显示适当声程范围内的波形，以便更好地判断、评价缺陷。
為(wèi)**正确的操作仪器，需要超声探伤专业技术人员来校准仪器。
為(wèi)了更好的说明校准方法和步骤，后面会举例说明。
直探头校准（单探头）
根据声速和探头零点的已知情况，确定校准步骤。若声速未知，则应先进行声速校准；若声速已知，
则跳过声速校准，调节声速為(wèi)已知声速后用(yòng)一点法进行探头零点校准。
已知材料声速的校准
步骤：
 材料声速设置為(wèi)已知材料声速，
 把探头耦合到校准试块上，
 设定闸门逻辑為(wèi)单闸门方式，即设為(wèi)进波报警或失波报警逻辑，把闸门套住一次回波，此时声程测
量的就是一次回波处的声程，
 调节探头零点，使得状态行的声程测量值（S）与试块的已知厚度相同，此时所得到的探头零点就是
该探头的准确探头零点。
 未知材料声速的校准
步骤：
 先初步设定一大概的声速值；
 调节闸门逻辑為(wèi)双闸门方式；
 将探头耦合到一与被测材料相同且厚度已知的试块上；
 移动闸门A 的起点到一次回波并与之相交，调节闸门A 的高度低于一次回波*高幅值至适当位置，
闸门A 不能(néng)与二次回波相交；
 移动闸门B 的起点到二次回波并与之相交，调节闸门B 的高度低于二次回波*高幅值至适当位置，
闸门B 不能(néng)与一次回波相交；
 调节声速，使得状态行显示的声程测量值（S）与试块实际厚度相同，此时，所得到的声速就是这种
探伤条件下的准确声速值。
 设定闸门逻辑為(wèi)单闸门方式，即设為(wèi)进波报警或失波报警逻辑，此时声程测量的就是一次回波处的
声程；
调节探头零点，使得状态行的声程测量值（S）与试块的已知厚度相同，此时所得到的探头零点就是
该探头的准确探头零点。
下面以具體(tǐ)例子说明：
材料声速未知， 设置接近的材料声速為(wèi)
5920m/s，设置闸门逻辑為(wèi)双闸门方式，同时探头零
点设置為(wèi)0；
将探头耦合到50mm 的标定试块上，并将闸A
门调到与一次回波相交的位置，将B 闸门调到与二
次回波相交的位置；
增加声速值，直到一、二次回波间声程显示的值為(wèi)50mm，现在便测得了材料的准确声速是6024m/s；
再将闸门设置為(wèi)单闸门方式，测量一次回波处的声程，连续调节探头零点直到一次回波处测得的声程值
為(wèi)50mm，现在便测得了探头零点為(wèi)0.125us。
4.2 直探头校准（双晶探头）
校准步骤：
 在收发组内设置双探头状态；
 依照当前测试任務(wù)和选用(yòng)探头设置好声程、收发组各功能(néng)项目；
 将探头耦合到标定试块上，调节基本组中的探头零点直到标定回波接近要求的位置，同时二次回波
也在显示范围之内；
 调节增益值直到幅值*大的回波接近全屏高度；
 在闸门组内打开双闸门；
 在设置功能(néng)组选择前沿测量方式；
 移动闸门A 的起点到一次回波并与之相交，闸门A 不能(néng)与二次回波相交；

 移动闸门B 的起点到二次回波并与之相交，闸门B 不能(néng)与一次回波相交；
 调整闸门高度，使其位于两个校准回波前沿的相同位置；
 然后改变声速，直至显示出标定试块的厚度值；
 设定闸门逻辑為(wèi)单闸门方式，即设為(wèi)进波报警或失波报警逻辑，此时声程测量的就是一次回波处的
声程；
 调节探头零点，使得状态行的声程测量值与试块的已知厚度相同。
 斜探头校准
斜探头校准通常需要以下步骤：1、校准入射点（探头前沿）；2、校准探头角度（K 值）；3、校准材
料声速；4 校准探头零点。
1、校准入射点（探头前沿）：用(yòng)IIW 试块（又(yòu)称荷兰试
块）或CSK－IA 试块测斜探头零点，优选将仪器声
速调节為(wèi)3230m/s，显示范围為(wèi)150mm，然后开始测
试，用(yòng)户如图将探头放在试块上并移动，使得R100mm
的圆弧面的反射體(tǐ)回波达到*高，用(yòng)直尺量出探头前
端面和试块R100mm 弧圆心距离，此值即為(wèi)该探头的前沿值，R100mm 弧圆心对应探头上的位置即
為(wèi)探头入射点。
2、校准探头角度（K 值）：用(yòng)角度值标定的探头可(kě)用(yòng)IIW
试块校准，如果是用(yòng)K 值标定的探头，可(kě)用(yòng)CSK－IA
试块校准。这两种试块上有(yǒu)角度或K 值的标尺，按探
头标称值选择合适的标尺（右图所示，在IIW 试块上
侧可(kě)校准60－76 度的探头，下侧可(kě)校准74－80 度的
探头，CSK-IA 试块上侧可(kě)校准K2.0、K2.5、K3.0 的
探头，下侧可(kě)校准K1.0、K1.5 的探头。请按试块上
的标定值选择用(yòng)合适的校准试块及校准方法）。如图放置探头，左右移动使得反射體(tǐ)回波达到*高，
此时入射点对应的刻度就是探头的角度或K 值。
3、校准材料声速按照1 中所述找到R100mm 的*高反射波，调节显示范围使得屏幕上能(néng)显示该弧面的
二次回波，选择闸门方式為(wèi)双闸门，调节A 闸门与一次回波相交，调节B 闸门与二次回波相交，调
节声速值使得状态行中声程测量值（S）為(wèi)100，此时得到的声速值即為(wèi)该材料的实际声速值。
4、校准探头零点保持上面的测量状态，将闸门方式改為(wèi)正或负，调节探头零点使得状态行中声程测量
值（S）再次為(wèi)100，此时得到的探头零点值即為(wèi)该探头的零点值。
斜探头的校准方法有(yǒu)很(hěn)多(duō)，并不完全拘泥于用(yòng)标准试块进行校准，也可(kě)以用(yòng)已知深度的小(xiǎo)孔进行校
准，理(lǐ)论上参考反射體(tǐ)越小(xiǎo)，校准的精度越高，但校准的难度也相应的加大。用(yòng)小(xiǎo)孔校准时可(kě)通过测量
小(xiǎo)孔的深度和水平位置，计算斜率来校准角度，并利用(yòng)测得的深度或水平位置值校准声速和探头零点。
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