一、水平線(xiàn)性
1.定义：仪器水平線(xiàn)性是示波屏上时基線(xiàn)的水平刻度与实际声程之间成正比的程度，即示波屏上多(duō)次底波等距离的程度。水平線(xiàn)性对缺陷定位有(yǒu)较大的影响。
水平線(xiàn)性用(yòng)水平線(xiàn)性误差表示。
2.测试步骤：
（1）将直探头置于CSK--1A试块的25mm厚大平底面上；
（2）通过[微调][水平][脉冲位移]等按钮，使屏上出现5次底波B1--B5，当底波B1和B5的幅度分(fēn)别為(wèi)50％满刻度时，将它们的前沿分(fēn)别对准刻度2.0和10.0。B1和B6的前沿位置在调整中如相互影响，则应反复进行调整。
a2、a3、a4分(fēn)别為(wèi)B2、B3、B4与4.0、6.0、8.0的偏差。
（3）水平線(xiàn)性误差计算： 
ZBY230--84规定：仪器的水平線(xiàn)性误差≤2% 例：用(yòng)IIW或CSK-1A试块测仪器的水平線(xiàn)性，现测得B1对准2.0，B5对准10.0时，B2、B3、B4与4.0、6.0、8.0的偏差分(fēn)别為(wèi)0.5、0.6、0.8;求其水平误差為(wèi)多(duō)少？
解：0.8
δ=------×100%=1%
0.8×100 二、垂直線(xiàn)性
1.定义：仪器垂直線(xiàn)性是示波屏上波高与探头接收的信号幅值之间成正比的程度。它取决于仪器放大器的性能(néng)。垂直線(xiàn)性用(yòng)垂直線(xiàn)性误差表示。垂直線(xiàn)性影响缺陷的检出和定量。
2.测试步骤：
（1）[抑制]至零，[衰减器]保留30dB衰减余量；
（2）将直探头置于CSK--1A试块的25mm厚大平底面上，????? 恒定压力压住；
（3）调节仪器使试块上某次底波位于示波屏中央，并达到100%幅度，作為(wèi)“0”dB;
（4）固定[增益]和其他(tā)旋钮，调衰减器，每次衰减2dB,并记下相应的波**填入表中，直到底波消失；
上表中：
理(lǐ)想相对波高是△i=2、4、6dB……时的波高比（如△i=6dB时的理(lǐ)想相对波高是50.1%）
三、计算垂直線(xiàn)性误差
D=（ |d1|+|d2| ）
式中： d1--实测值与理(lǐ)想值的*大正偏差
d2--实测值与理(lǐ)想值的*大负偏差 ZBY230--84规定：仪器的垂直線(xiàn)性误差D≤8% 三.探头灵敏度
1.调节灵敏度的几个旋钮 - [发射强度] 调节发射脉冲的输出幅度，发射强度大灵敏度高，但分(fēn)辨率低；
- [增益] 调节接收放大器的放大倍数，增益大灵敏度高；
- [抑制]限制检波后信号的输出幅度，主要用(yòng)于抑制杂波、提高信噪比。使用(yòng)[抑制]会使仪器的垂直線(xiàn)性变坏，动态范围变小(xiǎo)。[抑制]增加，灵敏度降低，尽量不要用(yòng)[抑制]；
- [衰减器] 電(diàn)路内专用(yòng)器件，用(yòng)于定量地调节示波屏上的波高，它是步进旋钮。分(fēn)：[粗调][细调]二档，[粗调]步長(cháng)10-20dB,[细调]步長(cháng)1-2dB。CTS-6型总衰减量50db;CTS-22型则為(wèi)80dB;
调节灵敏度的几个旋钮 - 《ZB Y230--84? A型脉冲反射超声探伤通用(yòng)技术条件》中规定：总衰减量不小(xiǎo)于60dB;衰减误差：1dB/12dB.
四、直探头 + 仪器的灵敏度余量测试 - 探头对准200 / Φ2平底孔；
- [抑制]：0；[发射强度] [增益]：*大；
- 调[衰减器]使Φ2孔*高回波达满刻度的50%（基准高），这时衰减量為(wèi)N1dB;
- 提起探头，用(yòng)[衰减器]将電(diàn)噪声電(diàn)平衰减到10%以下，这时衰减量為(wèi)N2dB;
- 灵敏度余量 N=N1-N2（dB）;
直探头的灵敏度余量要求≥30dB
五、斜探头 + 仪器的灵敏度余量测试 - 探头对准IIW试块R100园弧面；
- [抑制]：0； [发射强度] [增益]：*大；
- 调[衰减器]使R100回波达满刻度的50%（基准高），这时衰减量為(wèi)N1dB;
- 提起探头，用(yòng)[衰减器]将電(diàn)噪声電(diàn)平衰减到10%以下，这时衰减量為(wèi)N2dB;
- 灵敏度余量 N=N1-N2（dB）;
斜探头的灵敏度余量要求≥40dB 七、探头盲區(qū)测定
1 概念 - 盲區(qū)是指从探测面到能(néng)够发现缺陷处的*小(xiǎo)距离，即始脉冲宽度覆盖區(qū)的距离。
- 盲區(qū)与近场區(qū)的區(qū)别：盲區(qū)是始脉冲宽度与放大器引起的，而近场區(qū)是波的干涉引起的。盲區(qū)内缺陷一概不能(néng)发现，而近场區(qū)内缺陷可(kě)以发现但很(hěn)难定量。
2 测定方法
方法（1）： - 先将直探头在灵敏度试块上用(yòng)φ1平底孔调80%基准高。
- 将直探头放于盲區(qū)试块上，能(néng)独立显示φ1平底孔回波的*小(xiǎo)深度為(wèi)盲區(qū)。
方法（2）： - 用(yòng)IIW试块估算
- 将直探头放于IIW上方：能(néng)独立显示回波的，盲區(qū)≤5mm。无独立回波的，盲區(qū)＞5mm。
- 将直探头放于IIW左侧：能(néng)独立显示回波的，盲區(qū)5～10mm。无独立回波的，盲區(qū)＞10mm。
八 探头分(fēn)辨率
一、概念：示波屏上區(qū)分(fēn)相邻二缺陷的能(néng)力，能(néng)區(qū)分(fēn)的相邻二缺陷的距离愈小(xiǎo)，分(fēn)辨率就愈高。分(fēn)辨率与仪器和探头的质量有(yǒu)关。
二、纵波直探头分(fēn)辨率测定 - 直探头放于IIW试块85、91、100处，[抑制]為(wèi)0，左右移动探头，使屏上出现A、B、C波；
- 若A、B、C不能(néng)分(fēn)开，先将A、B等高，并取a1、b1值
求： a1
X=20 lg---- (dB)
b1
然后用(yòng)[衰减器]使B、C等高，取相应的a2、b2值
求： a2
Y=20 lg---- (dB)
b2
X、Y值愈大分(fēn)辨率愈高，一般X、Y ≥ 15dB
九、横波斜探头分(fēn)辨率测定 - 如图,平行移动探头，使A、B等高则分(fēn)辨率：
h1
X=20lg-------(dB)
h2 - 平行移动探头，使B、C等高则分(fēn)辨率：
h3
Y=20lg------ (dB)
h4
要求：X或Y≥ 6dB
实测时，[衰减器]将h1衰减到h2即為(wèi)X值，将h3衰减到h4即為(wèi)Y值。 十、斜探头的校准
一、入射点、前沿测试 - 如图，斜探头入射到R100圆弧上，左右移动探头找到*大反射回波；如果试块上有(yǒu)圆心刻度，则刻度对应处為(wèi)入射点；如果试块上无圆心刻度则用(yòng)钢尺量，使钢尺100处对准试块圆弧端，钢尺0点即為(wèi)入射点；使钢尺0点对准探头前端点，差值即為(wèi)前沿。
二、斜探头K值测试 - 如图，斜探头分(fēn)别入射到试块的二个圆上，左右移动探头找到*大反射回波；探头入射点所对应的刻度即K
- 探头K值的选择原则:
(1)声束扫查到整个焊缝截面;
(2)声束尽量垂直于主要缺陷;
(3)有(yǒu)足够的灵敏度和信噪比;
(4)有(yǒu)利于防止出现伪缺陷波。 十一、声束偏转角测定 - 概念：主声束中心線(xiàn)与声轴间的夹角称為(wèi)声轴偏转角。
- 测定：探头置于试块面上，旋转移动找到*大回波，测定探头中心線(xiàn)与试块上表面垂線(xiàn)间的夹角。
录象：入射点、前沿、斜探头K值测试 |