除了有(yǒu)测量铁磁性基體(tǐ)上非铁磁涂层的厚度（如钢铁上的漆层或铬层）和导電(diàn)材料上的非导電(diàn)层涂层的厚度（如非铁金属上的漆层） ，测量范围到1200 μ m的标准探头，我们还有(yǒu)特殊高精度的、能(néng)测量不同的小(xiǎo)部位或复杂的几何形状的探头，双晶探头可(kě)测量厚度高达12.5mm，我们同时还提供完整的配件。 為(wèi)固定测试有(yǒu)特别的设计， PC-leptoskop 2050是一个**的膜层测厚仪。