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涂层测厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可(kě)以 产品名称: 涂层测厚仪
产品型号: 2042
产品展商(shāng): 德國(guó)卡尔德意志(zhì)
简单介绍:
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有(yǒu)精准的测量技术和简单的操作方法，是万能(néng)的涂层测厚仪。通过解锁代码，可(kě)以使仪器在现场迅速的升级。

涂层测厚仪的详细介绍

可(kě)定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用(yòng)磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基體(tǐ)上的非铁磁层的厚度并且利用(yòng)涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导電(diàn)层厚度。
 
仪器将一种把测厚值显示為(wèi)模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文(wén)件管理(lǐ)系统相结合，同时提供10种可(kě)供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品，電(diàn)池寿命長(cháng)，可(kě)以连续工作100小(xiǎo)时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可(kě)以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可(kě)以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
  		 
  随机附送仪器箱
（仪器的举例）
  特点概述
 
大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有(yǒu)背景灯
校准选项
出厂时已校准，立即可(kě)用(yòng)
在未知涂层上校准*
零校准*
在无涂层的基體(tǐ)上一点和多(duō)点校准*
在有(yǒu)涂层的基體(tǐ)上校准*
 
校准数据可(kě)以别单独存储在独立的校准档案中，也可(kě)以随时调出
 
可(kě)选择的显示模式，以*佳形式去完成测量任務(wù)*
输入和极限监视*
在Windows下有(yǒu)简单的存储读数档案管理(lǐ)*
可(kě)用(yòng)的電(diàn)脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
统计*
 
可(kě)统计评估999个读数
*小(xiǎo)值、*大值、测量个数、标准偏差和极限监视
局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）
在線(xiàn)统计，所有(yǒu)统计值概括
LEPTOSKOP 2042 带有(yǒu)45°微型探头   * 取决于配置级别
  3种配置级别以更好的完成测量人任務(wù)
LEPTOSKOP 2042 有(yǒu)3种配置级别
 
基本型 – 证明质量的基本特征
**型 - 附加统计评估
专业型 - 统计评估和数据存储
   
如果针对新(xīn)的测量要求，而需要仪器增加新(xīn)的功能(néng)，可(kě)以在任何时候把仪器升级為(wèi)**型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可(kě)完成；而不需要把仪器反厂或重新(xīn)購(gòu)买新(xīn)机器。

这里有(yǒu)操作指南和制定模块的参考说明。


  		 
  通过解锁代码可(kě)以很(hěn)方便的升级
（证书举例）
  举例：仪器上的用(yòng)户界面图像
选择菜单项目（例如：语言清单）
 
A 语言清单
B 卷轴条作為(wèi)导航辅助
     
清晰的统计读数值和当前测量值
 
C 基體(tǐ)
D 当前测量值
E “可(kě)以测量”提示
F 单位
G *小(xiǎo)值和*大值
H 标准偏离
I 平均值
K 测量值数量
     
電(diàn)脑读数也被存储在目录和文(wén)件中
 
L 显示读数的文(wén)件符号
M 可(kě)自由选择的文(wén)件名
N 卷轴条作為(wèi)导航辅助
     
  多(duō)样的探头
多(duō)样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可(kě)以的。根据需求，我们也可(kě)以订做特殊探头。
 
  探头类型 测量方法 测量范围 订货号

标准探头Fe 0?br> 用(yòng)于在宽阔的、容易测量的地方 Fe 0 - 3000 祄 2442.100
标准探头 NFe 0?/font> NFe 0 - 1000 祄 2442.130
标准探头 NFe S 0?/font> NFe 0 - 3750 祄 2442.140
标准探头 Fe S 0?br>用(yòng)于测量表面有(yǒu)宽阔的涂层厚度 Fe 0.5 - 20 mm 2442.120
标准探头 Fe 90?br>用(yòng)于测量难接近的部位，例如：管子的内部 Fe 0 - 3000 祄 2442.110
双晶探头用(yòng)于测量表面有(yǒu)宽阔的涂层例如：管子的内部涂层. Fe 0.5 - 12.5 mm 2442.200
微型探头0?用(yòng)于测量小(xiǎo)尺寸和难接近的部位例如：钻孔的底部 FeNFe 0 - 500 祄 2442.300
2442.310
微型探头 45?用(yòng)于测量小(xiǎo)尺寸和难接近的部位 FeNFe 0 - 500 祄 2442.320
2442.330
微型探头 90?用(yòng)于测量小(xiǎo)尺寸和难接近的部位例如：管子的内壁和钻孔 FeNFe 0 - 500 祄 2442.340
2442.350
注：点击单独的探头图片，可(kě)以得到更多(duō)详细信息        

  技术资料
数据传输接口RS232 或 USB
電(diàn)源：電(diàn)池、充電(diàn)電(diàn)池、USB或外接電(diàn)源
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
测量速度:　每秒(miǎo)测量２个数值
存储: *多(duō) 9999 个数值，140个文(wén)件
误差:
涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后)
涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄
涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄
涂层厚度 > 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄
  附件
试块和膜片
探头定位装置　(适用(yòng)于微型探头)
定位辅助装置 (适用(yòng)于微型探头)
電(diàn)脑软件 STATWIN 2002 用(yòng)于数据传输和对整个目录结构的便捷管理(lǐ)
電(diàn)脑软件 EasyExport 用(yòng)于把单独的杜说或全部文(wén)件传输到Windows 程序里
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